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电气元件检测

  检测样品:电气元件

  检测项目:性能检测,指标检测,外观检测,耐高压检测等。

  检测周期:7-15个工作日(参考周期)

  检测标准参考

  BS EN 2591-701-2001光电连接元件 试验方法 第701部分:电气元件 耦合器开路阻抗的测量

  BS EN 2591-702-2001光电连接元件 试验方法 第702部分:电气元件 耦合器的信号失真测量

  BS EN 2591-703-2001光电连接元件 试验方法 第703部分:电气元件 耦合器的共态抑制

  BS EN 2591-704-2001光电连接元件 试验方法 第704部分:电气元件 用于连接器的变压器的线圈系数的测量

  BS EN 2591-705-2001光电连接元件 试验方法 第705部分:电气元件 耦合器的短线输入阻抗测量

  BS EN 2591-706-2001光电连接元件 试验方法 第706部分:电气元件 传输试验

  BS EN 2591-707-2001光电连接元件 试验方法 第707部分:电气元件 总线或短线端子的特征阻抗测量

  BS EN 2591-708-2001光电连接元件 试验方法 第708部分:电气元件 耦合器的表面传输阻抗测量

  BS EN 2591-709-2001光电连接元件 试验方法 第709部分:电气元件 耦合器的抗拉强度

  BS EN 2591-7301-2001光电连接元件 试验方法 第7301部分:电气元件 耦合器的耐热性

  BS EN 61360-5-2004电气元件标准数据元类型和相关分类模式.EXPRESS词典模式的扩展

  BS EN 130502-1998电气元件质量评估的协同系统.空白详细规范.直流电用固定金属多碳膜介质电容器.评估等级EZ

  BS EN 140211-1995电气元件质量评估的协调体系规范.空白详细规范.固定功率电阻.能力鉴定

  BS IEC 61865-2001架空线 带电部件和障碍物之间距离的电气元件的计算 计算方法

  CEI 56-59-2008高压和中压变电站用电力电气元件的可靠性现场数据收集

  CEI EN 60068-2-82-2008环境试验。第2-82部分:试验。试验Tx:电子和电气元件的晶须试验方法。第一版;包含Corr国际电工委员会:2009

  CEI EN 61360-2-2013电气元件的标准数据元素类型和相关分类方案第2部分:EXPRESS字典模式

  CEI EN 61360-4/EC-2006电气元件的标准数据元类型和相关分类方案.第4部分:标准数据元类型和元件类别的国际电工委员会参考集

  CEI EN 61360-4-2005电气元件的标准数据元类型及其分类表。第4部分:标准数据元类型和元件分类的国际电工委员会参考集。第一版

  EN 60068-2-82-2007环境测试.第2-82部分:试验.试验Tx:电子和电气元件用晶须试验方法

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